位相差測定裝置可用于數(shù)字微波通信系統(tǒng)中作為信道切換控制該裝置可以檢測兩個相同數(shù)據序列之間的相位差，兩個數(shù)據序列中的每一個由兩個獨立的傳輸通道之一傳輸。每個數(shù)據序列由串行轉換為一個位序列，其個數(shù)等于該數(shù)據序列的預定公共測量值。其中有幾個比較器和一個判斷電路，用于檢測一個數(shù)據序列生成的比特序列與另一個具有相同標簽的數(shù)據序列生成的比特序列之間的比特差。

　　

　　1、測量范圍寬

　　

　　從低相位差（2nm）到高相位差（20000nm）

　　

　　2、高精度測量

　　

　　實現(xiàn)方向的高精度和長期穩(wěn)定性測量

　　

　　3、日常維護減少耗材

　　

　　采用標準LED光源，無需更換光源

　　

　　4、與kobra-w系列共通

　　

　　樣品架，可選夾具共享

　　

　　5、操作注意事項

　　

　　與kobra-w系列相比，開口部較大

　　

　　6、設備尺寸法

　　

　　比kobra-w更緊湊

　　

　　7、1nm寬測量范圍，高重復精度±1nm，良好的可操作性

　　

　　位相差測定裝置都有哪些用途？

　　

　　1、光學功能膜研發(fā)、品質管理。

　　

　　2、延伸膜的取向評價（三維折射率、表面取向）。

　　

　　3、包裝薄膜的熱收縮和撕裂評價。

　　

　　4、液晶裝置用雙絞線波長色散特性評價。

　　

　　5、光學器件中透射橢圓偏振光的評估。