日立鍍層測厚儀

X-Strata920 是一款簡潔、堅固和可靠的質量控制 XRF 臺式熒光系統，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。X-Strata920 可應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。

主要特點包括：

? 成本低、快速、非破壞的 EDXRF 分析

? 可完成至多 4 層鍍層（另加底材）和 15 種元素的鍍層厚度測試，自動修正 X 射線重疊譜線

? 多元素辨識，廣泛覆蓋元素周期表上從鈦（22 號）到鈾（92號）各元素

使用能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術, X-Strata920 可實現如下測試要求：

? 符合 ISO3497 標準測試方法：金屬鍍層—X 射線光譜法測量鍍層厚度

? 符合 ASTM B568 標準測試方法：X 射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層

? 至多同時分析 25 種元素

日立鍍層測厚儀

井深式、開槽式樣品倉設計

? “井深式”樣品倉設計，可以測量很小到很大的廣泛尺寸的樣品/零件 ，可測量樣品高度不超過 160mm (6.3”)。樣品臺支架可放置在“深井”中的 4 個位置的卡槽上，使得不同樣品都可以方便地測量。

? 樣品臺支架放置在標準位置時，就是“開槽式樣品倉”，可以測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測點。

? Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm/1.7”）

? 樣品倉內部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高 x 寬 x 深 D)

簡潔、堅固、耐用的設計

? 經實踐驗證、堅固、耐用的設計，可在大多數嚴苛的工業條件下使用。

? 空間占用小 –節約寶貴的工作臺空間，也可近產線放置。

? 計算機提供 USB 和網絡接口用于連接打印機、光驅和網絡。